Это результат комбинирования основных компонентов АСМ для достижения максимальных универсальности и удобства использования. Сочетание современного сканера, платформы для высокоточной навигации по образцу в плоскостях XYZ, активного виброизоляционного столика и защиты от воздушного потока позволило создать для целей атомно силовой микроскопии беспрецедентно компактное и многофункциональное устройство.
Доступ к образцу и предметному столику можно получить при открытии сканера.
В закрытом состоянии обеспечивается звуковая и воздушная изоляция образца,
возможна регулировка его положения с помощью специальных ручек.
В зависимости от комплектации 32 стандартных и дополнительных режима с полностью совместимыми надстройками делают CoreAFM предпочтительным как для исследований структуры различных материалов, так и для изучения биологических сред и электрохимических реакций. Начиная с базовой версии, область применения CoreAFM может быть легко расширена. В систему можно легко добавить такие функции, как нагрев образца, контроль параметров окружающей среды, создание различных сценариев и т.д. Примеры приведены в таблице и на обзорной диаграмме.
| Стандартные моды | Магнитные свойства | Механические свойства |
| Динамическая полуконтактная мода (теппинг режим) | Магнитно-силовая микроскопия (MFM) | Модуляция силы взаимодействия |
| Контактная мода | Силовая спектроскопия | |
| Мода поперечных сил | Электрические свойства | Силовое картирование |
| Мода отображения фаз | Атомно-силовая микроскопия с измерением тока (C-AFM) | Жесткость и упругость |
| Пьезоэлектрическая силовая микроскопия (PFM) | Микроманипуляции и растяжение | |
| Электростатическая силовая микроскопия (EFM) | Адгезия | |
| Зондовая силовая микроскопия Кельвина (KPFM) | Литография и Наноманипуляции | |
| Электрохимическая атомно-силовая микроскопия (EC-AFM) |
Топология графена в виде хлопьев (АСМ)
Ниобат лития (ПСМ)
Сканер |
||
| Максимальный диапазон сканирования (XY) | 100 мкм(1) | плоскостность < 5 нм |
| Максимальная высота (Z) | 12 мкм(2) | замкнутый цикл |
| Шум детектора (RMS) | ср. 60 пм | макс. 100 пм |
| Шум сенсора (RMS) | ср. 180 пм | макс. 250 пм |
| Динмамический шум (RMS) | ср. 40 пм | макс. 70 пм |
| Статический шум (RMS) | ср. 100 пм | макс. 200 пм |
Кантилевер |
||
| Ширина | мин. 20 мкм | |
| Длина | мин. 40 мкм | |
| Светоотражающее покрытие | рекомендуется | |
| Измерения в жидких средах | да, с золотым покрытием | |
| Толщина чипа | 300 мкм, 500 мкм или 600 мкм в зависимости от вида кантилевера | |
(1) – Допуск ± 5%
(2) – Допуск ± 10%
Скачать PDF
Задать вопрос
Core AFM — лучшие возможности атомно-силовой микроскопии по доступной цене
