Сканирующая зондовая микроскопия

Сканирующий зондовый микроскоп Alphacen 300

Сканирующий зондовый микроскоп Alphacen 300
Атомно-силовая микроскопия для больших и тяжелых образцов
Является серийно выпускаемым продуктом, результатом многих лет исследований и работы с индивидуальными заказами различных клиентов

Описание оборудования

   Основные особенности:
  • стандартная система для АСМ
  • максимальные размеры образцов 300 мм x 300 мм
  • максимальная масса образцов – 40 кг

   Alphacen 300 является серийно выпускаемым продуктом, результатом многих лет исследований и работы с индивидуальными заказами различных клиентов.

   Мощное и удобное программное обеспечение Alphacen 300 позволяет без вмешательства пользователя проводить предварительный мониторинг поверхности по анализу видеоизображения и отмечать интересующие области.

   Практика показывает, что большинство атомно-силовых микроскопов в основном предназначены для анализа полупроводниковых пластин размером до 200 мм. Очевидно, что в таком случае исследования могут быть ограничены как формой, так и массой исследуемых образцов. Крупногабаритные и тяжелые виды продукции встречаются, например, и в сфере оптического производства (большие линзы различного назначения), и в сфере производства полупроводниковых приборов. Alphacen 300, являясь полноценным прибором для исследований методами АСМ, нивелирует подобные ограничения. Данный прибор имеет предметный столик, позволяющий свободно перемещаться по XY в пределах области на 300 мм x 300 мм и фиксировать каждую точку на образце. При необходимости диапазон измерений по оси X можно расширить вплоть до 500 мм. Максимально допустимый вес образца – 40 кг. Возможные режимы измерений представлены ниже в таблице.

Функциональность
01
Размер изображения: 1.5 мкм x 1.5 мкм
Обнаружено, что высота ступенек между большими террасами составляет 1.5 нм, между большой и малой – 0.75 нм
02
Размер изображения: 5 мкм x 5 мкм
Шероховатость поверхности: 0.112 нм RMS (0.087 нм Ra)

Основные характеристики

Сканер

Вид сканирования

Сканирование зондом

Режимы измерений

Стандартные моды:

  • • Контактная мода
  • • Мода поперечных сил
  • • Динамическая полуконтактная мода (теппинг режим)
  • • Мода отображения фаз

Температурная микроскопия:

  • • Сканирующая микроскопия теплопроводности (SThM)

Магнитные свойства:

  • • Магнитно силовая микроскопия (MFM)

Электрические свойства:

  • • Атомно-силовая микроскопия с измерением тока (C-AFM)
  • • Пьезоэлектрическая силовая микроскопия (PFM)
  • • Электростатическая силовая микроскопия (EFM)
  • • Зондовая силовая микроскопия Кельвина (KPFM)
  • • Сканирующая микроскопия сопротивления растекания (SSRM)

Механические свойства:

  • • Силовая спектроскопия
  • • Модуляция силы взаимодействия
  • • Жесткость и упругость
  • • Адгезия
  • • Силовое картирование
  • • Литография и Наноманипуляции
  • • Электрохимическая атомно силовая микроскопия (EC-AFM)
  • • Микроманипуляции и растяжение

Максимальный диапазон сканирования (XY)

100 мкм(1)

Максимальная высота (Z)

10 мкм(1)

Средняя ошибка линейности XY

< 0.1%

XY-плоскостность при максимальном диапазоне сканирования

ср. 5 нм

Уровень шума Z-сенсора (RMS)

ср. 150 пм / макс. 200 пм

Уровень шума при измерениях по оси Z
(RMS, статический режим, воздух)

ср. 100 пм / макс. 200 пм

Уровень шума при измерениях по оси Z
(RMS, динамический режим, воздух)

ср. 25 пм / макс. 35 пм

Источник света

850 нм низкокогерентный СЛД (суперлюминесцентный диод)

Предметный столик

Поле зрения (сверху)

5 MP, 1.5 мм x 1.1 мм

Поле зрения (сбоку)

5 MP, 3.2 мм x 3.2 мм

Максимальный размер образца

300 мм x 300 мм x 45 мм

Максимальная масса образца

40 кг

Позиционирование по XY

300 мм x 300 мм

Позиционирование по высоте

50 мм

Размеры системы

1008 мм x 1887 мм x 1208 мм

Масса системы

833 кг

Акустическая изоляция

~30 дБ

Виброизоляция

активная

Кантилевер

Ширина

мин. 20 мкм

Длина

мин. 40 мкм

Светоотражающее покрытие

рекомендуется

Измерения в жидких средах

Да, с золотым покрытием

Толщина чипа

300 мкм, 500 мкм или 600 мкм в зависимости от вида кантилевера


(1) Допуск ± 10%

Видео
Demo: Alphacen 300- AFM for large and heavy samples

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам
Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:
Похожее оборудование
DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов
Это результат многих лет исследований и самых последних разработок в области атомно-силовой микроскопии. Его отличает стабильная работа в любой среде, очень низкий уровень шума, получение изображений в высоком разрешении, большая область сканирования и полностью автоматизированная система, управляемая с помощью специально разработанного ПО.
Core AFM — лучшие возможности атомно-силовой микроскопии по доступной цене
Сочетание современного сканера, платформы для высокоточной навигации по образцу в плоскостях XYZ, активного виброизоляционного столика и защиты от воздушного потока
FlexAFM — один из самых универсальных и гибких в использовании сканирующих зондовых микроскопов
FlexAFM — ваш надежный инструмент для проведения топографических измерений и измерений метрологических характеристик как в воздушной среде, так и в жидкости
Flex-Bio — универсальный АСМ для исследования живой материи
Данный атомно-силовой микроскоп для биологических исследований  сочетает в себе универсальность и производительность
Сканирующий зондовый микроскоп Cytomass Monitor
Это единственный доступный в настоящее время исследовательский инструмент, позволяющий связать динамику клеточной массы с морфологией и состоянием клеток
Сканирующий зондовый микроскоп LensAFM
Данный блок может быть установлен как обычный объектив, что автоматически повышает разрешающую способность и другие измерительные возможности этих приборов
Сканирующий зондовый микроскоп NaniteAFM
NaniteAFM от Nanosurf позволяет проводить исследование и контроль высокотехнологичных поверхностей многих образцов, вне зависимости от их типа и размера
Сканирующий зондовый микроскоп NaioAFM
NaioAFM позволяет новым пользователям получать качественные АСМ снимки всего через 2 часа с начала работы
Сканирующий зондовый микроскоп FluidFM
Модуль FluidFM (FPM) позволяет сочетать в себе возможности жидкостной силовой микроскопии (ЖСМ) с чувствительностью и точностью АСМ
Сканирующий туннельный микроскоп NaioSTM
NaioSTM – это сканирующий туннельный микроскоп, который выделяется простотой настройки, максимально понятным использованием и удобством транспортировки
Программное обеспечение Flex-ANA
Данная система Flex-ANA предназначена для исследования наномеханических свойств самых различных материалов
Nanosurf customizing
Поскольку атомно-силовые микроскопы продолжают находить все больше областей применения, особенно в промышленности (производственных процессах и контроле качества), стандартные решения часто не являются подходящими для решения поставленных задач
Зондовая система Fermi SPM
Новые СЗМ Fermi представляют собой компактные решения для сверхвысоковакуумных СЗМ в температурном диапазоне от 15 до 400 К
Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron
СЗМ Probe явлется компактным доступным завершенным решением для низкотемпературных СВВ СЗМ систем Omicron
Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии
MULTISCAN Lab ScientaOmicron
Лаборатория MULTISCAN представляет собой инструмент, объединяющий различные методики анализа поверхности и работающие одновременно в одной области образца
Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1
Спустя год после присуждения Биннигу и Рореру Нобелевской премии в 1986 году компания Omicron представила первый сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп — легендарный UHV STM1
Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM
Метод низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии с момента выхода на рынок 15 лет назад в 1996 году остается востребованным в широком кругу научных областей
VT SPM
Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии
Large Sample SPM
СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
sales@imc-systems.ru
Наш телефон
+7 (495) 374-04-01