Источники VIS, NIR, MIR и THz света
Описание оборудования
В зависимости от источника подсветки ближнепольные микроскопы neaSNOM используются для анализа химических, структурных и электронных свойств органических и неорганических материалов. Разрешение полученных изображений, может быть, в 1000 раз лучше по сравнению с традиционными технологиями.
Основные характеристики
|
Источники видимого (VIS) и ближнего инфракрасного (Near-IR) излучения |
возможное применение: маппинг электрического поля плазмонных структур |
|---|---|
|
длина волны VIS: 405 нм, 532 нм, 633 нм, 785 нм, 808 нм |
|
|
длина волны Near-IR: 1064 нм, 1550 нм |
|
|
Источники среднего инфракрасного (Mid-IR) излучения |
возможное применение: селективный отбор органических и неорганических материалов; плазмоника на графене (чувствительность вплоть до 1 слоя) |
|
длина волны при разрешении 250 см-1 Mid-IR: 3.6-12 мкм |
|
|
длина волны Mid-IR: 9.2-10.8 мкм |
|
|
длина волны Mid-IR: 10.66-11.33 мкм |
|
|
Источники VIS, Near-IR и Med-IR излучения |
возможное применение: молекулярная спектроскопия органических и неорганических веществ |
|
длина волны VIS: 600-1100 нм |
|
|
длина волны Near-IR: 980-2300 нм |
|
|
длина волны Mid-IR: 2.4-4.2 мкм |
|
|
длина волны Mid-IR: 4.6-15.4 мкм |
|
|
Источники терагерцового излучения |
возможное применение: оценка параметров органических и неорганических веществ в рамках физики твердого состояния, например исследование |
|
транспорта электронов |
|
|
THz-TDS: 0.1-3 ТГц |
Расходные материалы и аксессуары
К расходным материалам и аксессуарам
Платформа для ближнепольной микроскопии neaSNOM
Ближнепольные микроскопы cryo-neaSNOM
Модули для спектроскопии и визуализации
Сервис и ремонт измерительного оборудования
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.
