RU EN
Задать вопрос

Сканирующий зондовый микроскоп NANOSURF Core AFM

Лучшие возможности АСМ по доступной цене

CoreAFM — это результат комбинирования основных компонентов АСМ для достижения максимальных универсальности и удобства использования. Сочетание современного сканера, платформы для высокоточной навигации по образцу в плоскостях XYZ, активного виброизоляционного столика и защиты от воздушного потока позволило создать для целей атомно силовой микроскопии беспрецедентно компактное и многофункциональное устройство.

Доступ к образцу и предметному столику можно получить при открытии сканера.
В закрытом состоянии обеспечивается звуковая и воздушная изоляция образца,
возможна регулировка его положения с помощью специальных ручек.

Функциональность

В зависимости от комплектации 32 стандартных и дополнительных режима с полностью совместимыми надстройками делают CoreAFM предпочтительным как для исследований структуры различных материалов, так и для изучения биологических сред и электрохимических реакций. Начиная с базовой версии, область применения CoreAFM может быть легко расширена. В систему можно легко добавить такие функции, как нагрев образца, контроль параметров окружающей среды, создание различных сценариев и т.д. Примеры приведены в таблице и на обзорной диаграмме.

Стандартные моды Магнитные свойства Механические свойства
Динамическая полуконтактная мода (теппинг режим) Магнитно-силовая микроскопия (MFM) Модуляция силы взаимодействия
Контактная мода Силовая спектроскопия
Мода поперечных сил Электрические свойства Силовое картирование
Мода отображения фаз Атомно-силовая микроскопия с измерением тока (C-AFM) Жесткость и упругость
Пьезоэлектрическая силовая микроскопия (PFM) Микроманипуляции и растяжение
Электростатическая силовая микроскопия (EFM) Адгезия
Зондовая силовая микроскопия Кельвина (KPFM) Литография и Наноманипуляции
Электрохимическая атомно-силовая микроскопия
(EC-AFM)

 

Топология графена в виде хлопьев (АСМ)

Сканирующий зондовый микроскоп NANOSURF Core AFM – Купить в IMC-SYSTEMS

Ниобат лития (ПСМ)

Технические характеристики

Сканер

Максимальный диапазон сканирования (XY) 100 мкм(1) плоскостность < 5 нм
Максимальная высота (Z) 12 мкм(2) замкнутый цикл
Шум детектора (RMS) ср. 60 пм макс. 100 пм
Шум сенсора (RMS) ср. 180 пм макс. 250 пм
Динмамический шум (RMS) ср. 40 пм макс. 70 пм
Статический шум (RMS) ср. 100 пм макс. 200 пм

Кантилевер

Ширина мин. 20 мкм
Длина мин. 40 мкм
Светоотражающее покрытие рекомендуется
Измерения в жидких средах да, с золотым покрытием
Толщина чипа 300 мкм, 500 мкм или 600 мкм в зависимости от вида кантилевера

(1) – допуск ± 5%
(2) – допуск ± 10%

Закрыть

Задать вопрос

Сканирующий зондовый микроскоп NANOSURF Core AFM

ФИО*
Компания
Телефон*
Email*
Напишите вопрос и наименование продукции*
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.