Главная Каталог Наука и нанотехнологии Сканирующая зондовая микроскопия VT SPM

Сканирующая зондовая микроскопия

VT SPM

Описание оборудования

Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии. Стабильные низкие значения тока важны для исследования чувствительных или плохо проводящих поверхностей. Для спектроскопии модуляции электронная компенсация уменьшает влияние паразитных токов, что экономит время сбора данных и улучшает результаты.

Ключевые особенности:

25 K — 1500 K
Реальная пикоамперная сканирующая туннельная микроскопия
Усовершенствованная спектроскопия dI/dV
АСМ
АСМ с датчиком QPlus
in-situ испарение

Системы зондовой микроскопии с переменной температурой Omicron успешно себя зарекомендовали во многих исследовательских лабораториях. На сегодняшний день по всему миру установлено более 500 приборов, а их качество, универсальность и высокая производительность подтверждается большим пулом результатов исследований и публикаций.

Функциональность

АСМ-изображение

Окисленных кристаллов сурьмы на ВОПГ. 2000×2000 нм, 200×200 pix, 20 000 нм/с. Dr. B. Kaiser, Германия

Кривая кантилевера

Пример фазовой/амплитудной кривой кантилевера (fрез=1,68 МГц), записанной с помощью системы контроля MATRIX

Кантилевер

Возвышающийся на держателе с возможностью замены зондов

Технология АСМ

для систем СЗМ

С переменной температурой основана на более чем 20-летнем опыте высоковакуумных АСМ. Она непрерывно развивается и улучшается. Классическая атомно-силовая микроскопия с ситемой регистрации отклонения кантилевера предлагает гибкость для многих режимов сканирования и типов кантилевера. Доступны высокоразрешающая АСМ, микроскопия сил трения, электростатическая силовая микроскопия, микроскопия зонда Кельвина и магнитная силовая микроскопия.

Особенности VT SPM

Последней главной разработкой является предусилитель АСМ, расширяющий диапазон полосы пропускания детектора от 450 кГц до 2 МГц. Благодаря сочетанию передовой электроники PPL и системы контроля MATRIX отныне пользователи могут работать с кантилеверами с высокой резонансной частотой для высокоскоростного бесконтакного сканирования.

Существующую комплектацию АСМ с переменной температурой можно модернизировать новейшей технологией предусиления совместно с усовершенствованным источником света. Новый датчик QPlus, основанный на кварцевом камертоне, расширяет область приложений систем СЗМ с переменной температурой.

В приложениях многофункциональной сверхвысоковакуумной СЗМ крайне важной является возможность замены кантилевера в условиях эксперимента, in-situ. В специально предназначенной камере может храниться до 12 кантилеверов! Различные зонды меняются посредством запатентованных драйверов пьезоуправляемого грубого позиционирования. Зонд перемещается через СВВ систему на специальной пластине, имеющей отверстие по типу «ключ-замок». Перенос осуществляется с помощью дистанционного управления пользователем с целью минимизации механических повреждений.

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Качество и безопасность пищевых продуктов

Фармацевтическая промышленность

Экология

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам

Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:

Расходные материалы для ИСП-АЭС

Расходные материалы для ААС

Расходные материалы для хроматографии

Расходные материалы для пробоподготовки

Расходные материалы для элементного анализа

Похожее оборудование

DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов

Это результат многих лет исследований и самых последних разработок в области атомно-силовой микроскопии. Его отличает стабильная работа в любой среде, очень низкий уровень шума, получение изображений в высоком разрешении, большая область сканирования и полностью автоматизированная система, управляемая с помощью специально разработанного ПО.

Nanosurf customizing

Поскольку атомно-силовые микроскопы продолжают находить все больше областей применения, особенно в промышленности (производственных процессах и контроле качества), стандартные решения часто не являются подходящими для решения поставленных задач

Зондовая система Fermi SPM

Новые СЗМ Fermi представляют собой компактные решения для сверхвысоковакуумных СЗМ в температурном диапазоне от 15 до 400 К

Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron

СЗМ Probe явлется компактным доступным завершенным решением для низкотемпературных СВВ СЗМ систем Omicron

Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT

Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии

MULTISCAN Lab ScientaOmicron

Лаборатория MULTISCAN представляет собой инструмент, объединяющий различные методики анализа поверхности и работающие одновременно в одной области образца

Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1

Спустя год после присуждения Биннигу и Рореру Нобелевской премии в 1986 году компания Omicron представила первый сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп — легендарный UHV STM1

Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM

Метод низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии с момента выхода на рынок 15 лет назад в 1996 году остается востребованным в широком кругу научных областей

Large Sample SPM

СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов