VT SPM

Передовые технологии сканирующей зондовой микроскопии

Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии. Стабильные низкие значения тока важны для исследования чувствительных или плохо проводящих поверхностей. Для спектроскопии модуляции электронная компенсация уменьшает влияние паразитных токов, что экономит время сбора данных и улучшает результаты.

Схема предусиления и внутренней емкостной компенсации с помощью программноуправляемого коэффициента усиления

Пример туннельной спектроскопии при низких значениях токов. L. Scifo et al., Nano Lett. 6, 1711–1718 (2006)	Рост многослойных пленок льда и формирование льда кубической структуры. Визуализация с помощью СТМ при I=0,4 пкА. Physical Review Letters 100,186101 (2008)

Ключевые особенности:

• 25 K — 1500 K
• Реальная пикоамперная сканирующая туннельная микроскопия
• Усовершенствованная спектроскопия dI/dV
• АСМ
• АСМ с датчиком QPlus
• in-situ испарение

Системы зондовой микроскопии с переменной температурой Omicron успешно себя зарекомендовали во многих исследовательских лабораториях. На сегодняшний день по всему миру установлено более 500 приборов, а их качество, универсальность и высокая производительность подтверждается большим пулом результатов исследований и публикаций.

Технология АСМ

Технология АСМ для систем СЗМ с переменной температурой основана на более чем 20-летнем опыте высоковакуумных АСМ. Она непрерывно развивается и улучшается. Классическая атомно-силовая микроскопия с ситемой регистрации отклонения кантилевера предлагает гибкость для многих режимов сканирования и типов кантилевера. Доступны высокоразрешающая АСМ,  микроскопия сил трения, электростатическая силовая микроскопия, микроскопия зонда Кельвина и магнитная силовая микроскопия.

Последней главной разработкой является предусилитель АСМ, расширяющий диапазон полосы пропускания детектора от 450 кГц до 2 МГц. Благодаря сочетанию передовой электроники PPL и системы контроля MATRIX отныне пользователи могут работать с кантилеверами с высокой резонансной частотой для высокоскоростного бесконтакного сканирования.

Существующую комплектацию АСМ с переменной температурой можно модернизировать новейшей технологией предусиления совместно с усовершенствованным источником света. Новый датчик QPlus, основанный на кварцевом камертоне, расширяет область приложений систем СЗМ с переменной температурой.

АСМ-изображение окисленных кристаллов сурьмы на ВОПГ. 2000×2000 нм, 200×200 pix, 20 000 нм/с. Dr. B. Kaiser, Германия	Пример фазовой/амплитудной кривой кантилевера (fрез=1,68 МГц), записанной с помощью системы контроля MATRIX	Кантилевер, возвышающийся на держателе с возможностью замены зондов

Быстрая и безопасная замена зондов

В приложениях многофункциональной сверхвысоковакуумной СЗМ крайне важной является возможность замены кантилевера в условиях эксперимента, in-situ. В специально предназначенной камере может храниться до 12 кантилеверов! Различные зонды меняются посредством запатентованных драйверов пьезоуправляемого грубого позиционирования. Зонд перемещается через СВВ систему на специальной пластине, имеющей отверстие по типу «ключ-замок». Перенос осуществляется с помощью дистанционного управления пользователем с целью минимизации механических повреждений.

Вихретоковое демпфирование

Представленная еще в 1980-х годах система вихретокового демпфирования положила веху в в технологии сверхвысоковакуумных системах сканирующей зондовой микроскопии. Успешно зарекомендовавшая конструкция обеспечивает высокое разрешение СТМ даже в неидеальных условиях на протяжении уже более 25 лет.