Описание оборудования
SEM 250: Источник электронов для сканирующей Оже- и растровой электронной микроскопии с размером пятна облучения лучше, чем 250 нм при 12 кВ напряжении / 1 нА токе пучка электронов, при рабочем расстоянии 16 мм. Обладает 0.2 кэВ — 12 кэВ диапазоном энергии пучка электронов, вольфрамовой нитью накаливания, максимальным током пучка электронов 1 мкА. Источник комплектуется SEG 250 — универсальной, полностью электростатической фокусирующей и отклоняющей колонкой, с переменным током пучка. Отжиг до 200 °С. Фланец для монтажа NW 63 CF (4 ½ «OD).
SEM 500: Источник электронов для сканирующей Оже- и растровой электронной микроскопии с размером пятна облучения лучше, чем 500 нм при 12 кВ напряжении / 1 нА токе пучка электронов, при рабочем расстоянии 15 мм. Обладает 0.2 кэВ — 12 кэВ диапазоном энергии пучка электронов, вольфрамовой нитью накаливания, максимальным током пучка электронов 1 мкА. Источник комплектуется SEG 500 — универсальной, полностью электростатической фокусирующей и отклоняющей колонкой, с переменным током пучка. Отжиг до 200 °С. Фланец для монтажа NW 63 CF (4 ½ «OD).
Сервис и ремонт измерительного оборудования
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.