Представляет собой универсальную платформу для проведения исследований поверхности образцов методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии в сверхвысоком вакууме. Отличительными особенностями являются:
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр ScientaOmicron XPS Lab
РФЭС спектрометр XPS Lab оснащена скоростным полусферическим анализатором Argus CU с высоким коэффициентом пропускания и мощным монохроматическим источником рентгеновского излучения, которые специально были объединены для обеспечения лучшей чувствительности.
Также, возможности стандартной системы могут быть расширены широким спектром специализированных компонентов, гарантирующих предоставить самый полный функционал для решения задачи практически любой сложности. Благодаря этому с использованием данной платформы возможны исследования методами Оже-спектроскопии и ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии (УФЭС). Кроме того, существуют варианты системы, где возможна работа (осаждение и анализ) с тонкими пленками методами MBE, SPM, AFM, ARPES и т.д.
1) Давление < 2*10-10 мбар
2) Материалы камеры: немагнитная сталь или мю-металл
3) Держатели для образцов: держатели флажкового типа для небольших пластин, держатель для больших образцов (площадью до 30 см2) или подложки диаметром до 4 дюймов.
![]() Держатель образцов флажкового типа |
![]() Держатель для больших образцов |
4) Функциональность (* опционально):
Система XPS Lab поставляется «под ключ», что обеспечивает быстрое и надежное внедрение в лаборатории заказчика.
+7 (495) 374-04-01
Отправьте заявку на электронную почту:Задать вопрос
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр ScientaOmicron XPS Lab