Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр ScientaOmicron XPS Lab

Краткий обзор РФЭ спектрометра XPS Lab

Представляет собой универсальную платформу для проведения исследований поверхности образцов методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии в сверхвысоком вакууме. Отличительными особенностями являются:

• уникальные возможности и отличная производительность РФЭС
• компактные размеры с отличным доступом ко всем рабочим областям
• удобное программное обеспечение для отслеживания хода эксперимента и сбора данных
• гибкая модульная система, которую можно настроить/модернизировать для своих собственных задач
• является подсистемой для Materials Innovation Platform (MIP)

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр ScientaOmicron XPS Lab

Универсальное решение для РФЭ,  УФЭ и Оже спектроскопии

РФЭС спектрометр XPS Lab оснащена скоростным полусферическим анализатором Argus CU с высоким коэффициентом пропускания и мощным монохроматическим источником рентгеновского излучения, которые специально были объединены для обеспечения лучшей чувствительности.

Также, возможности стандартной системы могут быть расширены широким спектром специализированных компонентов, гарантирующих предоставить самый полный функционал для решения задачи практически любой сложности. Благодаря этому с использованием данной платформы возможны исследования методами Оже-спектроскопии и ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии (УФЭС). Кроме того, существуют варианты системы, где возможна работа (осаждение и анализ) с тонкими пленками методами MBE, SPM, AFM, ARPES и т.д.

Основные технические характеристики

1) Давление < 2*10^-10 мбар

2) Материалы камеры: немагнитная сталь или мю-металл

3) Держатели для образцов: держатели флажкового типа для небольших пластин, держатель для больших образцов (площадью до 30 см²) или подложки диаметром до 4 дюймов.

Держатель образцов флажкового типа

Держатель для больших образцов

4) Функциональность (* опционально):

• 128 канальный детектор со вторым каскадом с анодной линейкой
• РФЭС
• РФЭС локальных микрообластей
• РФЭС с угловым разрешением
• Монохроматический X-ray источник Al Kα*
• Нейтрализация заряда*
• Профилирование по глубине с помощью ионного источника*
• Профилирование по глубине с помощью кластерного ионного источника*
• VUV источник света для УФЭС*
• Электронная пушка для Оже-спектроскопии *
• Нагрев образца*
• Охлаждение образца*
• Компьютерное моделирование*

Система XPS Lab поставляется «под ключ», что обеспечивает быстрое и надежное внедрение в лаборатории заказчика.