Электронная спектроскопия Scienta Omicron

Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (РФЭС) по индивидуальному проекту

Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (РФЭС) по индивидуальному проекту
Высокопроизводительный РФЭ и Оже спектрометры, выполненные по индивидуальному заказу

Описание оборудования

Некоторые примеры систем, изготовленных ScientaOmicron:

Prof. Igor Shvets, Trinity College Dublin, Ireland / MULTIPROBE MXPS XP

Спектрометрическая система MXPS оборудована тремя камерами: аналитической, препаративной и шлюзом быстрой загрузки образцов. Полусферический анализатор  EA 125 U5 работает в связке с монохроматором XM 1000 и пушкой для нейтрализации заряда CN 10 для монохроматизированной РФЭС, а также с УФ источником HIS 13 VUV для УФС. Все источники смонтированы на аналитической камере. Препаративная камера оборудована 4-grid SPECTALEED и источником ISE 5 для распылительной подготовки образца. Система автоматизирована под управлением ПО Cascade.

Dr. Olivier Renault / MULTIPROBE MXPS RM

РФЭ спектрометр с кастомизированными камерами для анализа и подготовки образцов, а также с отдельным загрузочным блоком для быстрого ввода образцов. Данная схема разработана как для работы в лабораторных условиях, так и для интеграции в линию пучка синхротронного излученияю. Аналитическая камера оснащена самым передовым оборудованием для проведения РФЭС с угловым разрешением. Система включает 5-осевой манипулятор с гелиевым охлаждением, анализатор высокого разрешения (EA125 U7 HR), монохроматический источник рентгена (XM 1000) и двыханодный рентгеновский источник (DAR 400), источник для нейтрализации заряда (CN 10), профилирования по глубине (FIG 05) и УФС (HIS 13), а также 4-grid LEED (SPEC 4).



Prof. Weidong Wu / MULTIPROBE MXPS with PLD Preparation Chamber

РФЭ спектрометр позволяет проводить In-situ анализ образцов, выращенных в соседней подготовительной камере импульсно-лазерного осаждения (PLD).  Аналитическая камера оснащена модулем AFM/STM и контроллером  MATRIX, полусферическим анализатором SPHERA U5, источником монохроматизированного рентгеновского излучения XM 1000, электронной пушкой EKF 300 для Оже-электронной спектроскопии, ионным источником FIG 05 для профилирования по глубине и лампой HIS 13 VUV для спектроскопии в ультрафиолетовом излучении.  Программное обеспечение CASCADE позволяет автоматизировать эксперимент.
PLD камера отедльным манипулятором образа для импульсно-лазерного осаждения, который работает в среде обогащенной кислородом при высокой температуре. Помимо столика мишеней (до 5 мишеней) для процесса лазерной абляции в камере установлен RHEED модуль для in-situ характеризации выращенных пленок. Загрузка мишеней осуществляется через отдельную шлюзовую камеру, соединенную с камерой для PLD.



Dr. Chris Nicklin / MULTIPROBE MXPS XP

РФЭС система, сконструированная для работы с размером образцов до 2″. Были специально подобраны аналитическая и препаративная камеры, а также шлюз для загрузки образцов. В препаративной камере обеспечена возможность нагрева образцов (> 1250°C) с их незамедлительной инспекцией с попомщью метода дифракции обратно отраженных электронов — LEED (SPEC 4/254/45).В аналитической камере образцы также могут быть подвергнуты нагреву. Анализатор энергий электронов EA 125 U5 работает совместно с двуханодным рентгеновским источником DAR400. Методы УФС доступны за счет источника HIS 13 VUV.  Структурный анализ образцов производится с помощью модуля сканирующей зондовой микроскопии для больших образцов (LS STM) под управлением ПО MATRIX. В системе обеспечена возможность усовершенствования для реализации РФЭС высокого давления.



Prof. Suemitsu / MULTIPROBE MXPS System

Данная система является трехкамерной (анлитическая, препаративная и камера загрузки образцов). Анализ образцов может быть выполнен с момощью LEED модуля или на атомно-силовом микроскопе  VT AFM XA  под управлением сисетмы MATRIX.
Анализатор электронов SPHERA U7 используется совместно с монохроматическим источником рентгеновского излучения (XM 1000) и двуханодной рентгеновской пушкой (DAR 400). Оже-спектроскопия реализована с помощью источника электронов EKF 300. Источник HIS 13 VUV используется для экспериментов в области ультрафиолетовой спектроскопии.



MULTIPROBE MXPS System

MULTIPROBE MXPS — система с тремя основными камерами для электронной спектроскопии, СЗМ и пробоподготовки. Электронная спектроскопия производится с помощью высококлассного полусферического анализатора Argus, монохроматора XM 1000, заполняющего источника CN 10 и пушки для распылительного профилирования  FDG 150. В дополнение, в комплекс была интегрирована 500 нм электронная РЭМ пушка для сканирующего режима оже-спектроскопии и микроскопии, кремниевый дрейф-детектор для EDS картирования. Система была полностью автоматизирована в ПО CASCADE. Препаративная камера оснащена  4-grid SPECTALEED и источником ионов ISE 5 для подготовки образцов. Отдельная подсистема повзоляет проводить структурный анализ образцов используя модуль сканирующей зондовой микроскопии с контролем температуры VT SPM под управлением ПО Matrix.

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам
Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:
Похожее оборудование
DA20 Компактный ARPES анализатор с угловым разрешением
Анализатор DA20 обладает инновационной технологией регистрации, которая ранее была доступна только в более крупных моделях, таких как ScientaOmicron DA30-L
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр ScientaOmicron XPS Lab
Представляет собой универсальную платформу для проведения исследований поверхности образцов методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии в сверхвысоком вакууме
Электронный ARPES анализатор DFS30
Данный анализатор DFS30 оснащен инновационной технологией трехмерной регулировки фокуса
HAXPES Lab — Фотоэлектронный спектрометр с жестким рентгеном
Комплекс фотоэлектронной спектроскопии HAXPES-Lab построен на следующих базовых принципах
DA30 ARPES. Фотоэмиссионный спектрометр с угловым разрешением
DA30 ARPES. Фотоэмиссионный спектрометр с угловым разрешением
Полусферический анализатор Argus
Argus является полусферическим анализатором нового поколения, который построен на базе мультиканального детектора и обеспечивает бескомпромиссную производительность в экспериментах РФЭС и ЭСХА
LEED & RHEED
RHEED (Дифракция быстрых электронов или ДБЭ) система состоит из: — экрана на свинцовом стекле с окном просмотра (6″ OD)
NanoSAM. Оже-спектроскопия, нанозонд
Химический анализ Оже-спектрометрии и микроскопии с предельным разрешением
SCIENTA DA30. Полусферический анализатор
Система VG Scienta DA30 является разработкой последнего поколения. Новейшая конструкция дефлектора этого анализатора позволяет прибору детектировать электроны в полном конусе с углом раствора 30 градусов
SCIENTA R3000. Полусферический анализатор
Модель Scienta R3000 — компактный спектрометр с 135 мм радиусом полусферы электронного анализатора, вакуумный корпус которого выполнен из мю-металла
SCIENTA R4000. Полусферический анализатор
Scienta R4000 является самым эффективным на сегодняшний день спектрометром c радиусом полусферы электронного анализатора 200 мм
SCIENTA R8000. Полусферический анализатор
С появлением на рынке модели VG Scienta R8000 было переосмыслено современное положение дел в области электронной спектроскопии
FOCUS PEEM — Фотоэмиссионный электронный микроскоп
Фотоэмиссионная электронная микроскопия (PEEM) является чрезвычайно мощным методом для получения изображений магнитного контраста, а также топографической и химической томографии в высоком разрешении.
NanoESCA — РФЭ спектрометр и микроскоп
NanoESCA предлагает отображение химических состояний с непревзойденным РФЭС латеральным разрешением (< 500 нм в лабораторных условиях).

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
sales@imc-systems.ru
Наш телефон
+7 (495) 374-04-01