Дифрактометр DX-2700BH — это комплексный продукт, сочетающий рутинный анализ со специализированными измерениями. Его отличают:
идеальное сочетание аппаратной части и программного обеспечения для удовлетворения потребностей как ученых, так и работников производства;
высокоточная система измерения угла дифракции;
высокостабильная система управления для обеспечения отличной повторяемости измерений;
широкий спектр дополнительных аксессуаров для самых различных целей;
специализированные программное обеспечением и простота эксплуатации.
Рентгеновский дифрактометр — это универсальный измерительный прибор, позволяющий получить информацию о фазовом составе материала, его кристаллической структуре и существующих химических связях.
идентификация одной и многих фаз в неизвестных образцах;
количественный анализ известных фаз в смешанных образцах;
анализ кристаллической структуры (анализ структуры по методу Ритвельда)
исследование кристаллической структуры при высоких и низких температурах;
анализ образцов в виде пленок: фазовый состав слоев, толщина слоев, шероховатость поверхности и т.д.;
анализ образцов на микроуровне;
оценка текстуры поверхности металлических образцов, анализ напряжений.
Дифрактометр DX-2700BH — сочетание высокой производительности, качества и практичности
простота подготовки образцов и установки (plug-and-play) различных аксессуаров;
металлокерамическая рентгеновская трубка для более высокой рабочей мощности;
закрытый пропорциональный счетчик, прочный и не требующий дополнительного обслуживания;
кремниевый дрейфовый детектор с превосходным угловым разрешением и разрешением по энергии;
модульная конструкция или сборка plug-and-play, оператору не нужно калибровать оптическую систему.
Программное обеспечение для обработки данных включает в себя следующие функции:
основные функции обработки данных (поиск пика, сглаживание, вычитание фона, подгонка формы пика, усиление формы пика, спектральный контраст, индексация дифракционной линии и т. д.);
быстрый количественный анализ нестандартных образцов;
оценка размера зерна;
анализ кристаллической структуры (измерение и уточнение параметров ячейки);
измерение макро- и микронапряжений;
анализ картины дифракционных пиков;
коррекция данных дифракции;
рутинный количественный анализ на основе метода Ритвельда;
качественный анализ с использованием базы данных ICDD или базы данных пользователей;
количественный анализ с использованием базы данных ICDD или базы данных ICSD.
