Источники ионизирующего излучения Scienta Omicron

Электронная пушка для нейтрализации заряда CN 10

Электронная пушка для нейтрализации заряда CN 10
Scienta Omicron
Источник электронов для нейтрализации заряда.

Описание оборудования

Особенности:

  • Отличная нейтрализация заряда
  • Очень низкий разброс по энергии электронов
  • Превосходное разрешение в РФЭС приложениях для изоляторов
  • Полностью дистанционное управление

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) идеально подходит для исследования изоляционных материалов, таких как полимеры, керамика, адгезивы и т. д. В этих материалах РФЭС измерения ведут к обеднению электронов, которые не восполняются в изоляторах, что приводит к изменению поверхностного потенциала. В результате, РФЭС пики сдвинуты, и идентификация пиков становится невозможным.

Явление поверхностного заряда может стать серьезной проблемой в монохроматических РФЭС измерениях, в которых не устанавливается динамическое равновесие между фотоэлектронами, покидающими образец, и электронами, поступающими из вакуума или объема образца. В результате, процедура нейтрализации заряда становится неизбежной.

CN 10 является специализированным источником электронов для отличной нейтрализации заряда. Низкий разброс по энергии ВаО нити накала обеспечивает превосходное разрешение в РФЭС приложениях для изоляторов. Источник оптимизирован для высоких токов электронного пучка вплоть до самых низких энергий электронов.

Кроме того, источник CN 10 может использоваться как часть схемы нейтрализации заряда вместе с ионной пушкой с плавающей колонной FDG 150.

Сочетание источников CN 10 и FDG 150 позволяет провести полную характеризацию даже самых неоднородных керамических соединений.

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам
Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:
Похожее оборудование
Источник ультрафиолетового излучения UV-X
Разработан специально для применения в лабораторных фотоэлектронных спектрометрах.
Источник электронов SL 1000
Источник электронов с монтажом на фланец NW35 CF, оптимизированный для параллельного пучка электронов при низких кинетических энергиях.
Источник электронов высокого разрешения SEM 20
Источник электронов для сканирующей Оже- и растровой электронной микроскопии с размером пятна облучения лучше, чем 20 нм при 25 кВ напряжении / 0.5 нА токе пучка электронов, на рабочем расстоянии 25 мм.
Электронная пушка SEM 250 / SEM 500
SEM 250: Источник электронов для сканирующей Оже- и растровой электронной микроскопии с размером пятна облучения лучше, чем 250 нм при 12 кВ напряжении / 1 нА токе пучка электронов.
Источник электронов с малым пятном EKF 1000
Источник электронов EKF 1000 с малым пятном облучения представляет собой компактное и экономически эффективное решение для решения широкого круга задач.
Аргонная кластерная пушка с ионным пучком GCIB 10S
Кластерная пушка GCIB 10S предназначена для максимально производительного определения профиля распределения веществ по глубине в комбинации с РФЭС и другими системами анализа поверхности.
Универсальная электронная пушка EKF 300
Источник EKF 300 с источником питания NGE 52 является универсальным источником электронов в диапазоне энергий от 0.1 кэВ до 5 кэВ.
Ионная пушка ISE 5
ISE 5 представляет собой компактный и универсальный источник ионного распыления, который обладает высокими токами мишени свыше 80 мкА в широком диапазоне энергий от 300 эВ до 5 кэВ.
Ионная пушка FDG 150
Данная ионная пушка от компании Scienta Omicron имеет точную фокусировку и четкое цифровое управление, что с легкостью обеспечивает регулируемый размер пучка с высочайшей плотностью тока, а также растровый режим для однородного травления образца.
Источники монохроматического рентгена XM 1000 и XM 1200
Монохроматический рентгеновский источник XM 1000 обеспечивает оптимальный поток фотонов и отличное разрешение по энергии.
Источники рентгена DAR 400 и DAR 450
DAR 400 — высокоинтенсивный рентгеновский источник с двойным анодом. Уникальная конструкция источника позволяет минимизировать перекрёстные помехи между двумя анодами.
УФ источник HIS 13
HIS 13 — высоковакуумный источник фотонов ультрафиолетового диапазона, обладает очень высокой интенсивностью благодаря интеграции высоковольтного анода в самоцентрирующийся газоразрядный капилляр.
УФ источник HIS 14 HD
Предназначен для ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии твердых тел с использованием газоразрядных линий HeI и HeII.
Источники ультрафиолетового излучения для UPS и ARPES
Scienta VUV5000 является узкополосным источником высокой интенсивности крайнего УФ диапазона для проведения эффективных измерений ARPES и УФ фотоэлектронной спектроскопии.

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
sales@imc-systems.ru
Наш телефон
+7 (495) 374-04-01