RU EN
Задать вопрос

Анализ структуры методами рентгеновской дифракции

Рентгеновская дифрактометрия является одним из наиболее распространенных методов для определения фазового состава исследуемых образцов. Она позволяет идентифицировать структуру, оценить содержание той или иной фазы в образце,  вид кристаллической решетки, размер элементарной ячейки и многое другое.

Благодаря рентгеноструктурному анализу возможно исследование образцов в виде порошков, пленок, тел макро- и микрообъема. Предложенные многоцелевые дифрактометры позволяют определить характеристики широкого спектра материалов: металлы, композитные материалы, объекты неорганического или органического происхождения, наноматериалы, сверхпроводящие материалы и т.д. Также рентгеноструктурный анализ широко используется при определении параметров глинистых почв, строительных материалов, производственной пыли, продуктов химической промышленности, фармацевтических препаратов и т.д.

Сегодня существует множество специализированных баз, хранящих информацию о структуре и фазовом составе большинства известных материалов, например: базы по кристаллографии ICSD и по материаловедению ICDD.

Закрыть

Задать вопрос

Вопрос будет задан со страницы: "Анализ структуры методами рентгеновской дифракции"

    ФИО*
    Компания
    Телефон*
    Email*
    Напишите вопрос и наименование продукции*
    Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.