Главная Каталог Наука и нанотехнологии Сканирующая зондовая микроскопия Сканирующий туннельный микроскоп NaioSTM

Сканирующая зондовая микроскопия

Сканирующий туннельный микроскоп NaioSTM

Микроскоп СТМ «все-в-одном» как простой путь в мир атомов

Небольшая механическая петля обратной связи обеспечивает превосходную стабильность

Описание оборудования

NaioSTM – это сканирующий туннельный микроскоп, который выделяется простотой настройки, максимально понятным использованием и удобством транспортировки. За счет компактности и возможности в кратчайшие сроки, с минимумом подготовки проводить исследования данный прибор идеален для проведения различных учебных мероприятий. Основание прибора обеспечено пассивной виброизоляцией, что дополнительно защищает измерения от помех. Система не требует какого-либо дополнительного питания.

Сканирующие зонды NaioSTM изготавливаются из Pt/Ir проволоки, для их получения не требуются опасные вещества. А продуманный дизайн системы не только обеспечивает хорошую производительность, но также делает ее очень простой в использовании. Все, что требуется – подключить кабели питания и USB. Процесс от настройки до просмотра первых удачных снимков может занять всего лишь несколько минут. Этому также поспособствуют интуитивно понятное программное обеспечение со встроенными помощниками и учебными шаблонами.

Функциональность

Снимок СТМ золота в режиме постоянной высоты

Снимок СТМ атомной решеткиИсследование плотности заряда

Исследование плотности заряда

Основные характеристики

Методы съемки	Режимы спектроскопии	Режимы литографии
Постоянный туннельный ток (топография)	Ток-напряжение	Формирование рисунка (наногравировка/наночеканка)
Постоянная высота (токовые сканы)	Ток-дистанция (между зондом и поверхностью образца)	Модификация поверхности
Максимальный диапазон сканирования	500 нм х 500 нм х 200 нм
Максимальное разрешение при сканировании	7.6 пм х 7.6 пм х 3.1 пм
Максимальные диаметр / толщина образца	10 мм / 3 мм

Узнать стоимость

Видео

NaioSTM Overview and Tutorial

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Качество и безопасность пищевых продуктов

Фармацевтическая промышленность

Экология

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам

Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:

Зонды для АСМ

Аксессуары для АСМ

Расходные материалы
для АСМ и СЭМ

Компоненты для
сверхвысокого вакуума

Похожее оборудование

DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов

Это результат многих лет исследований и самых последних разработок в области атомно-силовой микроскопии. Его отличает стабильная работа в любой среде, очень низкий уровень шума, получение изображений в высоком разрешении, большая область сканирования и полностью автоматизированная система, управляемая с помощью специально разработанного ПО.

Core AFM — лучшие возможности атомно-силовой микроскопии по доступной цене

Сочетание современного сканера, платформы для высокоточной навигации по образцу в плоскостях XYZ, активного виброизоляционного столика и защиты от воздушного потока

FlexAFM — один из самых универсальных и гибких в использовании сканирующих зондовых микроскопов

FlexAFM — ваш надежный инструмент для проведения топографических измерений и измерений метрологических характеристик как в воздушной среде, так и в жидкости

Flex-Bio — универсальный АСМ для исследования живой материи

Данный атомно-силовой микроскоп для биологических исследований сочетает в себе универсальность и производительность

Сканирующий зондовый микроскоп Cytomass Monitor

Это единственный доступный в настоящее время исследовательский инструмент, позволяющий связать динамику клеточной массы с морфологией и состоянием клеток

Сканирующий зондовый микроскоп Alphacen 300

Alphacen 300 является серийно выпускаемым продуктом, результатом многих лет исследований и работы с индивидуальными заказами различных клиентов

Сканирующий зондовый микроскоп LensAFM

Данный блок может быть установлен как обычный объектив, что автоматически повышает разрешающую способность и другие измерительные возможности этих приборов

Сканирующий зондовый микроскоп NaniteAFM

NaniteAFM от Nanosurf позволяет проводить исследование и контроль высокотехнологичных поверхностей многих образцов, вне зависимости от их типа и размера

Сканирующий зондовый микроскоп NaioAFM

NaioAFM позволяет новым пользователям получать качественные АСМ снимки всего через 2 часа с начала работы

Сканирующий зондовый микроскоп FluidFM

Модуль FluidFM (FPM) позволяет сочетать в себе возможности жидкостной силовой микроскопии (ЖСМ) с чувствительностью и точностью АСМ

Программное обеспечение Flex-ANA

Данная система Flex-ANA предназначена для исследования наномеханических свойств самых различных материалов

Nanosurf customizing

Поскольку атомно-силовые микроскопы продолжают находить все больше областей применения, особенно в промышленности (производственных процессах и контроле качества), стандартные решения часто не являются подходящими для решения поставленных задач

Зондовая система Fermi SPM

Новые СЗМ Fermi представляют собой компактные решения для сверхвысоковакуумных СЗМ в температурном диапазоне от 15 до 400 К

Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron

СЗМ Probe явлется компактным доступным завершенным решением для низкотемпературных СВВ СЗМ систем Omicron

Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT

Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии

MULTISCAN Lab ScientaOmicron

Лаборатория MULTISCAN представляет собой инструмент, объединяющий различные методики анализа поверхности и работающие одновременно в одной области образца

Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1

Спустя год после присуждения Биннигу и Рореру Нобелевской премии в 1986 году компания Omicron представила первый сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп — легендарный UHV STM1

Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM

Метод низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии с момента выхода на рынок 15 лет назад в 1996 году остается востребованным в широком кругу научных областей

VT SPM

Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии

Large Sample SPM

СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов