Главная Каталог Наука и нанотехнологии Сканирующая зондовая микроскопия FlexAFM — один из самых универсальных и гибких в использовании сканирующих зондовых микроскопов

Сканирующая зондовая микроскопия

FlexAFM — один из самых универсальных и гибких в использовании сканирующих зондовых микроскопов

Один из самых универсальных и гибких в использовании сканирующих зондовых микроскопов

Заказать Узнать подробнее

Описание оборудования

FlexAFM — ваш надежный инструмент для проведения топографических измерений и измерений метрологических характеристик как в воздушной среде, так и в жидкости. Дополнительные аксессуары для FlexAFM позволяют также проводить измерения механических, электрических и магнитных характеристик.

Усовершенствовав ключевые технологии, Nanosurf сделала FlexAFM одним из самых универсальных и гибких АСМ, позволяющим с легкостью выполнять широкий спектр приложений для исследования материалов. Для перемещения по оси XY FlexAFM использует линейный электромагнитный сканер, благодаря которому во всем диапазоне сканирования среднее отклонение линейности не превосходит 0,1% (первое место на рынке АСМ). Ось Z оснащена пьезоприводом и датчиком положения, обеспечивающим работу в замкнутом контуре. Чувствительная система кантилеверов может выполнять измерения в (МГц) диапазоне частот. В сочетании с мощным 24-битным контроллером C3000i с цифровой обратной связью и 2 двухканальными синхронными усилителями возможна наиболее полная характеризация самых различных материалов.

Функциональность

«Топография»

Пример режима

«Зондовая силовая микроскопия Кельвина»

Пример режима

«Магнитно-силовая микроскопия»

Пример режима

3D АСМ

Топография слоя MoS2

Основные характеристики

Режимы измерений	Стандартные моды: • Контактная мода • Мода поперечных сил • Динамическая полуконтактная мода (теппинг режим) • Мода отображения фаз Температурная микроскопия: • Сканирующая микроскопия теплопроводности (SThM) Магнитные свойства: • Магнитно силовая микроскопия (MFM) Электрические свойства: • Атомно-силовая микроскопия с измерением тока (C-AFM) • Пьезоэлектрическая силовая микроскопия (PFM) • Электростатическая силовая микроскопия (EFM) • Зондовая силовая микроскопия Кельвина (KPFM) • Сканирующая микроскопия сопротивления растекания (SSRM) Механические свойства: • Силовая спектроскопия • Модуляция силы взаимодействия • Жесткость и упругость • Адгезия • Силовое картирование • Литография и Наноманипуляции • Электрохимическая атомно силовая микроскопия (EC-AFM) • Микроманипуляции и растяжение
FlexAFM 5 с C3000i контроллером	100-мкм сканирующая головка	10-мкм сканирующая головка
Размер образцов	без предметного столика – не ограничен с предметным столиком – не больше 100 мм
Максимальная высота чашки Петри (уровень жидкости)	9 мм (6 мм)
Диапазон ручной регулировки высоты	6 мм
Диапазон автоматической регулировки высоты	2 мм
Максимальный диапазон сканирования (XY)	100 мкм⁽¹⁾	10 мкм⁽¹⁾
Максимальная высота (Z)	10 мкм⁽²⁾	3 мкм⁽¹⁾
Средняя ошибка линейности XY	< 0.1%
XY-плоскостность при максимальном диапазоне сканирования	ср. 5 нм	ср. 1 нм
Уровень шума детектора (RMS)	ср. 60 пм / макс. 100 пм^(3,4)
Уровень шума Z-сенсора (RMS)	ср. 180 пм / макс. 200 пм⁽³⁾
Уровень шума при измерениях по оси Z (RMS, статический режим, воздух)	ср. 100 пм / макс. 200 пм
Уровень шума при измерениях по оси Z (RMS, динамический режим, воздух)	ср. 35 пм / макс. 50 пм
Размеры сканирующей головки	413 x 158 x 53 мм
Масса сканирующей головки	1.25 кг
Кантилевер
Ширина	мин. 20 мкм
Длина	мин. 40 мкм
Светоотражающее покрытие	рекомендуется
Измерения в жидких средах	да, с золотым покрытием
Толщина чипа	300 мкм, 500 мкм или 600 мкм в зависимости от вида кантилевер

(1) – Допуск ± 5%
(2) – Допуск ± 10%
(3) – Измерено при 2 кГц
(4) – Измерено с помощью XYContr кантилевера

Узнать стоимость

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Качество и безопасность пищевых продуктов

Фармацевтическая промышленность

Экология

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам

Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:

Зонды для АСМ

Аксессуары для АСМ

Расходные материалы
для АСМ и СЭМ

Компоненты для
сверхвысокого вакуума

Похожее оборудование

DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов

Это результат многих лет исследований и самых последних разработок в области атомно-силовой микроскопии. Его отличает стабильная работа в любой среде, очень низкий уровень шума, получение изображений в высоком разрешении, большая область сканирования и полностью автоматизированная система, управляемая с помощью специально разработанного ПО.

Core AFM — лучшие возможности атомно-силовой микроскопии по доступной цене

Сочетание современного сканера, платформы для высокоточной навигации по образцу в плоскостях XYZ, активного виброизоляционного столика и защиты от воздушного потока

Flex-Bio — универсальный АСМ для исследования живой материи

Данный атомно-силовой микроскоп для биологических исследований сочетает в себе универсальность и производительность

Сканирующий зондовый микроскоп Cytomass Monitor

Это единственный доступный в настоящее время исследовательский инструмент, позволяющий связать динамику клеточной массы с морфологией и состоянием клеток

Сканирующий зондовый микроскоп Alphacen 300

Alphacen 300 является серийно выпускаемым продуктом, результатом многих лет исследований и работы с индивидуальными заказами различных клиентов

Сканирующий зондовый микроскоп LensAFM

Данный блок может быть установлен как обычный объектив, что автоматически повышает разрешающую способность и другие измерительные возможности этих приборов

Сканирующий зондовый микроскоп NaniteAFM

NaniteAFM от Nanosurf позволяет проводить исследование и контроль высокотехнологичных поверхностей многих образцов, вне зависимости от их типа и размера

Сканирующий зондовый микроскоп NaioAFM

NaioAFM позволяет новым пользователям получать качественные АСМ снимки всего через 2 часа с начала работы

Сканирующий зондовый микроскоп FluidFM

Модуль FluidFM (FPM) позволяет сочетать в себе возможности жидкостной силовой микроскопии (ЖСМ) с чувствительностью и точностью АСМ

Сканирующий туннельный микроскоп NaioSTM

NaioSTM – это сканирующий туннельный микроскоп, который выделяется простотой настройки, максимально понятным использованием и удобством транспортировки

Программное обеспечение Flex-ANA

Данная система Flex-ANA предназначена для исследования наномеханических свойств самых различных материалов

Nanosurf customizing

Поскольку атомно-силовые микроскопы продолжают находить все больше областей применения, особенно в промышленности (производственных процессах и контроле качества), стандартные решения часто не являются подходящими для решения поставленных задач

Зондовая система Fermi SPM

Новые СЗМ Fermi представляют собой компактные решения для сверхвысоковакуумных СЗМ в температурном диапазоне от 15 до 400 К

Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron

СЗМ Probe явлется компактным доступным завершенным решением для низкотемпературных СВВ СЗМ систем Omicron

Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT

Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии

MULTISCAN Lab ScientaOmicron

Лаборатория MULTISCAN представляет собой инструмент, объединяющий различные методики анализа поверхности и работающие одновременно в одной области образца

Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1

Спустя год после присуждения Биннигу и Рореру Нобелевской премии в 1986 году компания Omicron представила первый сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп — легендарный UHV STM1

Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM

Метод низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии с момента выхода на рынок 15 лет назад в 1996 году остается востребованным в широком кругу научных областей

VT SPM

Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии

Large Sample SPM

СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов