Электронная спектроскопия Scienta Omicron
DA30 ARPES. Фотоэмиссионный спектрометр с угловым разрешением
Система фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (установка для ARPES)
Описание оборудования
Фотоэмиссионный спектрометр DA30 ARPES построен на базе лучших в мире инструментов для ARPES (фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением):
- непревзойденная производительность ARPES с высочайшим угловым и энергетическим разрешением
- интеллектуальная система интеграции и автоматизации
- революционный дефлекционный режим (deflection mode) работы анализатора DA30:
— улучшенная точность
— отсутствие матричных эффектов за счет фиксации образца
— единая точка сэмплирования - доступны детекторы для измерений со спиновым разрешением
- 4, 5, и 6-осевые криоманипуляторы (по выбору заказчика)
- монохроматизированный УФ источник с высокой яркостью для быстрых измерений
- вакуумная система специально сконструирована для наилучшей производительности ARPES
- гибкая конструкция с возможностью дальнейшего расширения и апгрейда
Система DA30 ARPES является готовым решением для экспериментов в области фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением. Конструкция установки вмещает огромный опыт Scienta Omicron в области электронной спектроскопии. Так как готовое решение разрабатывалось поставщиком всех компонентов установки, вы можете быть уверены в наивысшем качестве изготовления, с вниманием ко всем ключевым аспектам (экранирование установки, вопросы заземления для приложений высокого разрешения и др.). Все системы Scienta Omicron могут быть усовершенствованы и расширены в будущем до многофункциональных кластерных систем. Обеспечены пути расширения методами сканирующей зондовой микроскопии и молекулярно-лучевой эпитаксии, что делает систему крайне эффективным научным инструментом.
Расходные материалы и аксессуары
К расходным материалам и аксессуарамМы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:
DA20 Компактный ARPES анализатор с угловым разрешением
Анализатор DA20 обладает инновационной технологией регистрации, которая ранее была доступна только в более крупных моделях, таких как ScientaOmicron DA30-L
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр ScientaOmicron XPS Lab
Представляет собой универсальную платформу для проведения исследований поверхности образцов методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии в сверхвысоком вакууме
Электронный ARPES анализатор DFS30
Данный анализатор DFS30 оснащен инновационной технологией трехмерной регулировки фокуса
HAXPES Lab — Фотоэлектронный спектрометр с жестким рентгеном
Комплекс фотоэлектронной спектроскопии HAXPES-Lab построен на следующих базовых принципах
Полусферический анализатор Argus
Argus является полусферическим анализатором нового поколения, который построен на базе мультиканального детектора и обеспечивает бескомпромиссную производительность в экспериментах РФЭС и ЭСХА
Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (РФЭС) по индивидуальному проекту
Спектрометрическая система MXPS оборудована тремя камерами: аналитической, препаративной и шлюзом быстрой загрузки образцов
LEED & RHEED
RHEED (Дифракция быстрых электронов или ДБЭ) система состоит из: — экрана на свинцовом стекле с окном просмотра (6″ OD)
NanoSAM. Оже-спектроскопия, нанозонд
Химический анализ Оже-спектрометрии и микроскопии с предельным разрешением
SCIENTA DA30. Полусферический анализатор
Система VG Scienta DA30 является разработкой последнего поколения. Новейшая конструкция дефлектора этого анализатора позволяет прибору детектировать электроны в полном конусе с углом раствора 30 градусов
SCIENTA R3000. Полусферический анализатор
Модель Scienta R3000 — компактный спектрометр с 135 мм радиусом полусферы электронного анализатора, вакуумный корпус которого выполнен из мю-металла
SCIENTA R4000. Полусферический анализатор
Scienta R4000 является самым эффективным на сегодняшний день спектрометром c радиусом полусферы электронного анализатора 200 мм
SCIENTA R8000. Полусферический анализатор
С появлением на рынке модели VG Scienta R8000 было переосмыслено современное положение дел в области электронной спектроскопии
FOCUS PEEM — Фотоэмиссионный электронный микроскоп
Фотоэмиссионная электронная микроскопия (PEEM) является чрезвычайно мощным методом для получения изображений магнитного контраста, а также топографической и химической томографии в высоком разрешении.
NanoESCA — РФЭ спектрометр и микроскоп
NanoESCA предлагает отображение химических состояний с непревзойденным РФЭС латеральным разрешением (< 500 нм в лабораторных условиях).
Сервис и ремонт измерительного оборудования
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.
Наша почта
sales@imc-systems.ru
Наш телефон
+7 (495) 374-04-01