FOLLOW US ON
+7 (495) 374-04-01
Отраслевые решения
Задать вопрос

Технические характеристики атомно-силового микроскопа (NanosurfNaniteAFM)

 

 

 

Размер кадра, область сканирования 110 мкм

—          Максимально 110 мкм

Диапазон по Z 

—          Максимально 22 мкм

—          Разрешение по Z: 0.34 нм

—          Разрешение по XY: 1.7 нм

—          Ошибка нелинейности по XY: <0.6%

Шум

—          Шум по Z (RMS, статический режим): 0.4 нм (макс: 0.55 нм)

—          Шум по Z (RMS, динамический режим): 0.3 нм (макс: 0.55 нм)

Выравнивание кантилевера 

—          Автоматическое выравнивание кантилевера

Диапазон автоматического подвода

—          4.5 мм (2 мм ниже фокальной плоскости встроенной оптики)

 

Закрыть

Задать вопрос

Оборудование для контроля воды IMC Systems - научное оборудование, инспекция в полупроводниковой промышленности, оборудование для экологического мониторинга и контроля технологических процессов

ФИО*
Компания
Телефон и email*
Напишите вопрос и наименование продукции*
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.