FOLLOW US ON
+7 (495) 374-04-01
Отраслевые решения
Задать вопрос

VT SPM

Передовые технологии сканирующей зондовой микроскопии

Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии. Стабильные низкие значения тока важны для исследования чувствительных или плохо проводящих поверхностей. Для спектроскопии модуляции электронная компенсация уменьшает влияние паразитных токов, что экономит время сбора данных и улучшает результаты.

Схема предусиления и внутренней емкостной компенсации с помощью программноуправляемого коэффициента усиления

Пример туннельной спектроскопии при низких значениях токов. L. Scifo et al., Nano Lett. 6, 1711–1718 (2006) Рост многослойных пленок льда и формирование льда кубической структуры. Визуализация с помощью СТМ при I=0,4 пкА. Physical Review Letters 100,186101 (2008)

 


 

Ключевые особенности:

  • 25 K — 1500 K
  • Реальная пикоамперная сканирующая туннельная микроскопия
  • Усовершенствованная спектроскопия dI/dV
  • АСМ
  • АСМ с датчиком QPlus
  • in-situ испарение

Системы зондовой микроскопии с переменной температурой Omicron успешно себя зарекомендовали во многих исследовательских лабораториях. На сегодняшний день по всему миру установлено более 500 приборов, а их качество, универсальность и высокая производительность подтверждается большим пулом результатов исследований и публикаций.


 

Технология АСМ

Технология АСМ для систем СЗМ с переменной температурой основана на более чем 20-летнем опыте высоковакуумных АСМ. Она непрерывно развивается и улучшается. Классическая атомно-силовая микроскопия с ситемой регистрации отклонения кантилевера предлагает гибкость для многих режимов сканирования и типов кантилевера. Доступны высокоразрешающая АСМ,  микроскопия сил трения, электростатическая силовая микроскопия, микроскопия зонда Кельвина и магнитная силовая микроскопия.

Последней главной разработкой является предусилитель АСМ, расширяющий диапазон полосы пропускания детектора от 450 кГц до 2 МГц. Благодаря сочетанию передовой электроники PPL и системы контроля MATRIX отныне пользователи могут работать с кантилеверами с высокой резонансной частотой для высокоскоростного бесконтакного сканирования.

Существующую комплектацию АСМ с переменной температурой можно модернизировать новейшей технологией предусиления совместно с усовершенствованным источником света. Новый датчик QPlus, основанный на кварцевом камертоне, расширяет область приложений систем СЗМ с переменной температурой.

АСМ-изображение окисленных кристаллов сурьмы на ВОПГ. 2000×2000 нм, 200×200 pix, 20 000 нм/с. Dr. B. Kaiser, Германия Пример фазовой/амплитудной кривой кантилевера (fрез=1,68 МГц), записанной с помощью системы контроля MATRIX Кантилевер, возвышающийся на держателе с возможностью замены зондов

 


 

Быстрая и безопасная замена зондов

В приложениях многофункциональной сверхвысоковакуумной СЗМ крайне важной является возможность замены кантилевера в условиях эксперимента, in-situ. В специально предназначенной камере может храниться до 12 кантилеверов! Различные зонды меняются посредством запатентованных драйверов пьезоуправляемого грубого позиционирования. Зонд перемещается через СВВ систему на специальной пластине, имеющей отверстие по типу «ключ-замок». Перенос осуществляется с помощью дистанционного управления пользователем с целью минимизации механических повреждений.

 


Вихретоковое демпфирование

Представленная еще в 1980-х годах система вихретокового демпфирования положила веху в в технологии сверхвысоковакуумных системах сканирующей зондовой микроскопии. Успешно зарекомендовавшая конструкция обеспечивает высокое разрешение СТМ даже в неидеальных условиях на протяжении уже более 25 лет.

 

 

Закрыть

Задать вопрос

Оборудование для контроля воды IMC Systems - научное оборудование, инспекция в полупроводниковой промышленности, оборудование для экологического мониторинга и контроля технологических процессов

ФИО*
Компания
Телефон и email*
Напишите вопрос и наименование продукции*
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.