FOLLOW US ON
+7 (495) 374-04-01
Отраслевые решения
Задать вопрос

Электронная пушка SEM 250 / SEM 500

Краткий обзор

SEM 250: Источник электронов для сканирующей Оже- и растровой электронной микроскопии с размером пятна облучения лучше, чем 250 нм при 12 кВ напряжении / 1 нА токе пучка электронов, при рабочем расстоянии 16 мм. Обладает 0.2 кэВ — 12 кэВ диапазоном энергии пучка электронов, вольфрамовой нитью накаливания, максимальным током пучка электронов 1 мкА. Источник комплектуется SEG 250 — универсальной, полностью электростатической фокусирующей и отклоняющей колонкой, с переменным током пучка. Отжиг до 200 °С. Фланец для монтажа NW 63 CF (4 ½ «OD).

 

SEM 500: Источник электронов для сканирующей Оже- и растровой электронной микроскопии с размером пятна облучения лучше, чем 500 нм при 12 кВ напряжении / 1 нА токе пучка электронов, при рабочем расстоянии 15 мм. Обладает 0.2 кэВ — 12 кэВ диапазоном энергии пучка электронов, вольфрамовой нитью накаливания, максимальным током пучка электронов 1 мкА. Источник комплектуется SEG 500 — универсальной, полностью электростатической фокусирующей и отклоняющей колонкой, с переменным током пучка. Отжиг до 200 °С. Фланец для монтажа NW 63 CF (4 ½ «OD).

Закрыть

Задать вопрос

Оборудование для контроля воды IMC Systems - научное оборудование, инспекция в полупроводниковой промышленности, оборудование для экологического мониторинга и контроля технологических процессов

ФИО*
Компания
E-mail*
Телефон*
Вопрос*