FOLLOW US ON
+7 (495) 374-04-01
Отраслевые решения
Задать вопрос

NanoWizard 3 NanoScience AFM

Гибкость в основе дизайна

 

 

 

Новый атомно-силовой микроскоп Nanoscience на платформе NanoWizard 3a идеально подходит для широчайшего круга применений: от изображения единичных молекул, полимеров и наночастиц до электрических, оптических, электрохимических и механических измерений в контролируемой среде.

Прибор оснащен системой количественного изображения QITM mode, позволяющей использовать для построения изображений силовые кривые, повышая точность изображения.

Используемая инновационная система HyperDriveTM обеспечивает субнанометровой разрешение в латеральной плоскости и сводит к минимуму взаимодействие кантилевера с образцом.

В арсенале дополнителных компонент АСМ NanoScience присутствуют разнообразные средства создания и поддержания заданных параметров окружающей среды: нагрев и охлаждение образца, создание инертной атмосферы, агрессивные среды (кислоты, растворители, окислители) с возможностью многоканальной циркуляции, подмешивания различных средств в одну ячейку, электрохимия и контроль влажности.

Nanoscience — это:

  • Оптимальная система для исследований на воздухе и в жидкости для задач молекулярной биологии, физики полимеров и поверхностей
  • Система HyperDriveTM, обеспечивающая превосходное разрешение мягких образцов в жидкости
  • Дополнительные принадлежности для работ в разных областях: от электрохимии до органической электроники
  • Цифровой контроллер VortisTM нового поколения
  • Возможность сканирования образцов увеличенного размера
  • Высокоточная система измерения сил для исследований межмолекулярых взаимодействий, а также возможность проведения экспериментов по наноиндентированию с помощью программного обеспечения ExperimentPlannerTM и RampDesignTM

                                    

Закрыть

Задать вопрос

Оборудование для контроля воды IMC Systems - научное оборудование, инспекция в полупроводниковой промышленности, оборудование для экологического мониторинга и контроля технологических процессов

ФИО*
Компания
E-mail*
Телефон*
Вопрос*