FOLLOW US ON
+7 (495) 374-04-01
Отраслевые решения
Задать вопрос

NanoWizard 3 NanoOptics AFM

 

Оптика в наноразмерном масштабе

 

 

 

Новый Атомно-силовой микроскоп NanoWizard 3 NanoOptics оптимизирован под широкий круг применений: от получения оптического изображения в ближнепольном режиме до экпериментов, связанных с взаимодействием света с поверхностью образца, таких как поглощение, возбуждение, нелинейные эффекты и эффекты тушения.

Комплексные решения

Теперь АСМ позволяет совмещать сканирующие зондовые методики с такими инструментами исследований как: Рамановская спектроскопия, зондово-усиленная Рамановская спектроскопия, апертурная ближнепольная микроскопия и микроскопия расссеянного света, конфокальная микроскопия, а также наноманипуляции

Совметимость с инвертированными микроскопами

Платформа NanoWizard 3 совместима с основными коммерчески доступными инвертированными микроскопами исследовательского класса (Zeiss Axiovert, Axio Observer, Nikon TE, Ti, Olympus IX и Leica DMI)

Система интеграции оптического и АСМ изображений Direct OverlayTM с использованием режимов сканирования образцом и кантилевером.

Особенности NanoOptics:

  • Полная интеграция с инвертированными оптическими микроскопами, Рамановскими спектросскопами, устройствами счета фотонов
  • Высочайшая стабильность и крайне низкий уровень теплового дрейфа для проведения длительных экспериментов
  • Эксперименты со сканированием в режиме замкнутой обратной связи одновременно по 6 осям (три оси сканирования кантилевером и три- образцом) с использованием модуля TAOTM
  • Эффективное применение в экспериментах на воздухе или в жидкости с превосходной разрешающей способностью, низким уровнем шума и максимальной гибкостью
  • Расширенные возможности благодаря новым методикам и приспособлениям, полностью цифрового контроллера VortisTM и программного обеспечения NanoWizard
  • Использование лазера 980 нм для определения отклонения кантилевера предотвращает появление перекрестных помех
  • Широкий спектр методик сканирования, таких как: СТМ, микроскопия проводимости, ближнепольная микроскопия

Закрыть

Задать вопрос

Оборудование для контроля воды IMC Systems - научное оборудование, инспекция в полупроводниковой промышленности, оборудование для экологического мониторинга и контроля технологических процессов

ФИО*
Компания
Телефон и email*
Напишите вопрос и наименование продукции*
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.