Главная Каталог Наука и нанотехнологии Сканирующая зондовая микроскопия Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron

Сканирующая зондовая микроскопия

Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron

Сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый (туннельный) микроскоп для исследовательских задач

Заказать Задать вопрос специалисту

Описание оборудования

СЗМ Probe явлется компактным доступным завершенным решением для низкотемпературных СВВ СЗМ систем Omicron. Жесткая конструкция прибора идеально подходит для сканирования СЗМ с высоким разрешением. СВВ СЗМ размещается на экспериментальной камере, имеющей все необходимые инструменты для загрузки и приготовления образца. Камеру легко можно оснастить дополнительным оборудованием для приготовления и анализа образца. Порты камеры продуманы для светодиодной оптики, испарительных установок, ионного источника с ионно-плазменным напылением, анализаторов остаточных газов, инструментов обзора образца, экспериментов с давлением и вакуумных насосов.

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Качество и безопасность пищевых продуктов

Фармацевтическая промышленность

Экология

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам

Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:

Расходные материалы для ИСП-АЭС

Расходные материалы для ААС

Расходные материалы для хроматографии

Расходные материалы для пробоподготовки

Расходные материалы для элементного анализа

Похожее оборудование

DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов

Это результат многих лет исследований и самых последних разработок в области атомно-силовой микроскопии. Его отличает стабильная работа в любой среде, очень низкий уровень шума, получение изображений в высоком разрешении, большая область сканирования и полностью автоматизированная система, управляемая с помощью специально разработанного ПО.

Nanosurf customizing

Поскольку атомно-силовые микроскопы продолжают находить все больше областей применения, особенно в промышленности (производственных процессах и контроле качества), стандартные решения часто не являются подходящими для решения поставленных задач

Зондовая система Fermi SPM

Новые СЗМ Fermi представляют собой компактные решения для сверхвысоковакуумных СЗМ в температурном диапазоне от 15 до 400 К

Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT

Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии

MULTISCAN Lab ScientaOmicron

Лаборатория MULTISCAN представляет собой инструмент, объединяющий различные методики анализа поверхности и работающие одновременно в одной области образца

Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1

Спустя год после присуждения Биннигу и Рореру Нобелевской премии в 1986 году компания Omicron представила первый сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп — легендарный UHV STM1

Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM

Метод низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии с момента выхода на рынок 15 лет назад в 1996 году остается востребованным в широком кругу научных областей

VT SPM

Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии

Large Sample SPM

СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов