FOLLOW US ON
+7 (495) 374-04-01
Отраслевые решения
Задать вопрос

Аргонная кластерная пушка GCIB 10S

Краткий обзор

Кластерная пушка GCIB 10S предназначена для максимально производительного определения профиля распределения веществ по глубине в комбинации с РФЭС и другими системами анализа поверхности.

Кластерный пучок ионов позволяет проводить глубокий анализ профиля распределения веществ по глубине в полимерах с минимальной потерей информации о химических связях из-за повреждения поверхности ионным пучком. Это имеет решающее значение при анализе современных многослойных структур, например, органических светодиодов (OLED), биомедицинских устройств с чувствительным покрытием или других полимерных поверхностей, а также демонстрирует заметный прогресс в анализе хорошо известных материалов, поверхность которых заметно деградирует во время обычного профилирования с использованием Ar1.

Помимо использования аргонового кластерного ионного источника вместе с современными системами РФЭС, система GCIB 10S также может быть легко интегрирована в имеющуюся у заказчика систему сверхвысокого вакуума: монтаж осуществляется на свободный NW63CF фланец, направленный на образец. Использование GCIB 10S — экономичный способ модернизации РФЭС, МСВИ или других систем, которые используют кластерный пучок ионов для очистки образца или анализа профиля распределения веществ по глубине.

Закрыть

Задать вопрос

Оборудование для контроля воды IMC Systems - научное оборудование, инспекция в полупроводниковой промышленности, оборудование для экологического мониторинга и контроля технологических процессов

ФИО*
Компания
Телефон и email*
Напишите вопрос и наименование продукции*
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.