FOLLOW US ON
+7 (495) 374-04-01
Отраслевые решения
Задать вопрос

FOCUS PEEM. Фотоэмиссионный электронный микроскоп

Краткий обзор

  • Поверхностно-чувствительная микроскопия
  • Латеральное разрешение 20 нм
  • Локальная спектроскопия
  • Томография k-пространства
  • Удобен в работе
  • Совместим с MULTIPROBE системами сверхвысокого вакуума компании ScientaOmicron
  • Продукт компании FOCUS

Мощный инструмент для анализа поверхности

Фотоэмиссионная электронная микроскопия (PEEM) является чрезвычайно мощным методом, универсальность которого для получения изображений магнитного контраста, а также топографической и химической томографии в высоком разрешении была продемонстрирована во многих экспериментах, проводимых на синхротроне и в лабораторных условиях.

Детальная характеризация магнитных устройств, исследование плазмонов, химия поверхности и химический анализ с высоким латеральным разрешением в сочетании с синхротронным излучением, исследование процессов с разрешением во времени и томография k-пространства — лишь несколько примеров использования PEEM. В отличие от сканирующего электронного микроскопа (SEM), PEEM отображает излучающую фотоэлектроны поверхность образца в режиме реального времени, без сканирования.

Эмиссия электронов с поверхности образца может быть вызвана различными способами — облучением фотонами, термически, электронной / ионной бомбардировкой или полевой эмиссией. На протяжении многих лет FOCUS PEEM постоянно совершенствуется в производительности и удобстве использования. Конструкция FOCUS PEEM вместе с специальным интегрированным предметным столиком высокой стабильности (IS) и различными имеющимися энергетическими фильтрами подчиняется модульной концепции и легко модернизируется. Кроме того, оригинальное программное обеспечение обеспечивает эффективную и безопасную работу FOCUS PEEM даже на сложных образцах. Более чем 50 приборов, работающих по всему миру, позволяют считать FOCUS PEEM мощным инструментом анализа поверхности.

 

Закрыть

Задать вопрос

Оборудование для контроля воды IMC Systems - научное оборудование, инспекция в полупроводниковой промышленности, оборудование для экологического мониторинга и контроля технологических процессов

ФИО*
Компания
Телефон и email*
Напишите вопрос и наименование продукции*
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.