FOLLOW US ON
+7 (495) 374-04-01
Отраслевые решения
Задать вопрос

DirectOverlay

Для достижения безупречного сочетания оптики и атомно-силовой микроскопии на молекулярном уровне необходимо предотвратить возникающие искажения. Дисторсии в наложении оптических и АСМ-изображений включают аберрации, возникающие от линз и зеркал оптической системы.

Принцип Direct Overlay

Наложение красных вставок топографии АСМ на зеленые флюоресцентные изображения клеток CHO
3D-топография АСМ центральной красной вставки

В 2005 году компания JPK разработала уникальный метод калибровки Direct OverlayTM, использующий прецизионность системы сканирования с замкнутой петлей обратной связи и обеспечивающий корректную визуализацию. Процедура калибровки осуществляется автоматически, используя известные величины положений и отступов кантилевера для корреляции оптического изображения с координатами АСМ. Чтобы создать безупречный гибрид изображений в алгоритме калибровки используется 25 и более точек. В каждой точке после получения оптического изображения положение зонда кантилевера распознается автоматически, без необходимости ввода данных о наклоне, форме или размерах кантилевера. Это позволяет проводить нелинейную конверсию, так что оптическое изображение выправляется несмотря на любые несовершенства линз и конвертируется в линеаризованные АСМ-координаты. Таким образом становится возможным безупречная комбинация данных АСМ и оптики с точностью выше дифракционного предела.

Особенности и преимущества

С помощью данной опции возможно получать результаты максимально быстро и с минимальным возмущением кантилевера. Зонды с функциональными покрытиями для молекулярного распознавания полностью защищены и предотвращена их пассивация от сканирования до момента проведения силовых измерений. Данные продвинутых оптических методик, фазового контраста, ДИК, эпифлюоресценции, TIRF, FRET, FLIM и других также бескомпромиссно накладываются в одном окне интерфейса программного обеспечения. Оптические изображения можно получать с помощью любых оптических устройств и импортировать напрямую, используя программное обеспечение камеры. Для оптимальной гибкости модуль Direct OverlayTMможно использовать с системами JPK NanoWizard со схемой сканирования кантилевером и модулем Tip Assisted Optics (TAOTM) со схемой сканирования образцом. Благодаря высокой точности калибровки наложение оптических и АСМ-данных об образце теперь возможно на молекулярном уровне.

Наложение данных АСМ (в цветном варианте) и оптического фазового контраста клеток астроцитов

 

  • Данные ДИК, фазового контраста и флюоресценции можно идеально накладывать в одном окне программы благодаря уникальной калибровке
  • Возможность выбора области АСМ-сканирования в оптическом изображении
  • Более эффективные эксперименты, в частности, для силовой спектроскопии и картирования – возможность кликать в оптическом изображении
  • Коррекция не только на масштаб и поворот, но и на дисторсии
  • Основа – 25 и более точек, а не 3
  • Полная автоматизация

Области приложений:

  • АСМ и оптика с проходящим светом (светлое поле, ДИК, фазовый контраст и другие)
  • Флюоресцентная микроскопия
  • Конфокальная микроскопия
  • TIRF, FRET, FLIM, FCS
  • Суперразрешающие методики (PALM, STORM)
  • Мультифотонная микроскопия
  • Raman и TERS – микроскопия
Закрыть

Задать вопрос

Оборудование для контроля воды IMC Systems - научное оборудование, инспекция в полупроводниковой промышленности, оборудование для экологического мониторинга и контроля технологических процессов

ФИО*
Компания
E-mail*
Телефон*
Вопрос*