FOLLOW US ON
+7 (495) 374-04-01
Отраслевые решения

СЗМ-2017

Конференция будет посвящена широкому кругу вопросов, связанных с современным состоянием и перспективами развития различных методов Сканирующей Зондовой Микроскопии (СЗМ) в различных областях науки. Молодежная конференция будет включать приглашенные лекции ведущих специалистов и практические занятия на оборудовании УЦКП «Современные нанотехнологии» ИЕНиМ УрФУ. Будет проведен конкурс работ молодых ученых. Конференция планируется быть первой в цикле ежегодных конференций, проводимых в разных городах России. В ходе конференции планируются также выступления специалистов ООО «Группа Ай-Эм-Си».

Тематики конференции:

1. СЗМ в материаловедении.

2. Новые методы СЗМ.

3. СЗМ в биологии и медицине.

4. Аналитические методы СЗМ.

5. Зондовая литография.

6. In situ возможности СЗМ.

7. Обработка данных СЗМ.

9. Ферроики.

8. Сканирующая микроскопия пьезоотклика.

10. Науки о жизни.

Программа конференции доступна для скачивания по ссылке.